一、產(chǎn)品概述：
真空開關真空度測試儀（英文名稱：Vacuum Switch Vacuum Degree Tester 或 Vacuum Tester），主要用于定量測量各種型號真空開關滅弧室內的真空度， 它以單片計算機為主控單元，測試過程完全實現(xiàn)自動化，在原理上改變了國內外同類產(chǎn)品采用電流峰值做標定的方法，而采用離子電荷來做標定，有效地抑制了測試過程中脈沖電源的干擾，使測試更為穩(wěn)定可靠。
ZKD-III真空度測量儀是真空滅弧室的真空度的鑒定設備，它以磁控放電為原理，以單片計算機為主控單元，測試過程完全實現(xiàn)自動化。ZKD-III真空度測量儀的采樣設計一改以往采用電流峰值做標定的方法，而采用離子電荷來做標定。這樣，有效地抑制了測試過程中瞬態(tài)電源的干擾，使測試穩(wěn)定可靠。
二、主要特點
◆基于電離電荷的采樣技術
真空斷路器是電力系統(tǒng)中普遍使用的高壓電器，其核心部件是真空滅弧室，由于滅弧室是以真空條件作為工作基礎的，所以它不象油開關，SF6開關那樣容易檢測其質量。傳統(tǒng)上，用戶判斷滅弧室真空度的方法是工頻耐壓法，這種方法只能粗略判斷真空度嚴重劣化的滅弧室。
ZKD-III真空度測量儀是真空滅弧室的真空度的鑒定設備，它以磁控放電為原理，以單片計算機為主控單元，測試過程完全實現(xiàn)自動化。該儀器的采樣設計一改以往采用電流峰值做標定的方法，而采用離子電荷來做標定。這樣，有效地抑制了測試過程中瞬態(tài)電源的干擾，使測試穩(wěn)定可靠。由于采用計算機為主控單元，ZKD-III真空度測量儀能很方便地扣除由于環(huán)境因素產(chǎn)生的漏電電流。本儀器突出的特點是：實現(xiàn)了真空滅弧室的免拆卸測量，直接顯示真空度值，使真空斷路器用戶詳細掌握滅弧室的真空狀態(tài)，為有計劃地更換滅弧室提供了可靠的依據(jù)，為電網(wǎng)的**運行提供了有力保障，克服了工頻耐壓法僅能判斷滅弧室是否報廢的缺陷。
ZKD-III真空度測量儀測量精度高，操作簡單，攜帶方便，抗干擾能力強，特別適用于供電單位現(xiàn)場測試，是真空斷路器生產(chǎn)、安裝、調試、維修的必備儀器之一。
三、技術參數(shù)
1. 真空度測量范圍： 1×10-1～1×10-5
2. 測 量 誤 差： ＜10%
3. 測 量 分 辨 率： 10-5pa
4. 允許環(huán)境溫度： -20℃～50℃
5. 空 氣 濕 度： ≤80%RH
6. 電 源： AC，220V，50Hz±10%
7. 外 型 尺 寸： 420×290×210（mm）
8. 重 量： 8kg
四、測試原理
將滅弧室的兩觸頭拉開一定的開距，施加脈沖高壓，將電磁線圈環(huán)繞于滅弧室的外側，向線圈通以大電流，從而在滅弧室內產(chǎn)生與高壓同步的脈沖磁場，這樣在脈沖磁場的作用下，滅弧室中的電子做螺旋運動，并與殘余氣體分子發(fā)生碰撞電離，所產(chǎn)生的離子電流與殘余氣體密度即真空度近似成比例關系。對于不同的真空管，在同等真空度條件下，離子電流的大小也不相同，當測知離子電流后，通過離子電流一真空度曲線，由計算機自動完成真空度的計算，并顯示真空度值。
◆漏電電流的處理
對處于分斷狀態(tài)的真空滅弧室兩端加高壓時，會有數(shù)值不等的幾個微安的漏電電流，此漏電電流即使是同型號的真空滅弧室也有較大的個體差異。尤其是對于裝在整機上的真空滅弧室，由于其周邊的絕緣支撐件也有漏電，這些漏電的總和有更大的不穩(wěn)定性和不可預測性，并且在數(shù)值上與10-4Pa數(shù)量級的真空滅弧室的電離電流相當。我們采用兩次起動高壓的方法，扣除了漏電電流，保證了無論是裝于整機上還是待裝的真空滅弧室的真空計量精度。
◆內置多條真空滅弧室的測量曲線
真空滅弧室由于其幾何尺寸、材料的不同，當內部真空度和外加激勵電源一定時，其放電電荷量是不同的，并且有相當?shù)牟町悺闇蚀_測量，對每一種真空滅弧室必須有對應的從電離電荷量到真空度的推算曲線。我廠 的專家通過與國內主要真空滅弧室生產(chǎn)廠家的密切合作，取得了很多真空滅弧室的電離電荷和真空度關系的數(shù)據(jù)，通過數(shù)學處理，將其特征參數(shù)送入ZKD-III系列產(chǎn)品。因此,ZKD-III系列產(chǎn)品內置了很多真空滅弧室的測量曲線。這是國內外同類產(chǎn)品中****的。
◆完善的輸入保護電路
當真空滅弧室的真空度非常低時，測量時真空滅弧室會被高壓擊穿，瞬間的高壓直接加至信號輸入端的采樣電路上，使其承受十分強的電沖擊。ZKD-III的信號輸入端的采樣電路增加了完備的保護電路，即使儀器由于輸入端的高壓沖擊而發(fā)生暫時工作不正常時（重新開機即可），也不會造成電路部分的損壞。
